1、DX系列衍射仪是为材料研究和工业产品分析设计的，是常规分析与特殊目的测量相结合的完善产品。
　　• 硬件系统和软件系统的完美结合，满足不同应用领域学者、科研者的需要
　　• 高精度的衍射角度测量系统，获取更准确的测量结果
　　• 高稳定性的X射线发生器控制系统，得到更稳定的重复测量精度
　　• 各种功能附件满足不同测试目的需要
　　• 程序化操作、一体化结构设计，操作简便、仪器外型更美观

2、X射线衍射仪是揭示材料晶体结构和化学信息的一种通用性测试仪器：
　　• 未知样品中一种和多种物相鉴定
　　• 混合样品中已知相定量分析
　　• 晶体结构解析（Rietveld结构分析）
　　• 非常规条件下晶体结构变化（高温、低温条件下）
　　• 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
　　• 微区样品的分析
　　• 金属材料织构、应力分析

 【完善的品质与卓越性能的结合】
　• DX系列衍射仪除了基本功能外，可快速配置各种附件，具有超强的分析能力
　• 高精度的机械加工，使附件安装位置的重现性极大地提高，软件自动识别相应附件，不需要对光路进行校准，附件安装实现即插即用，最简单的操作就可满足特殊目的测量的需要。

 【高性能与实用的完美结合】
　• 基于θ-θ几何光学设计，便于样品的制备和各种附件的安装
　• 金属陶瓷X射线管的应用，极大提高衍射仪运行功率
　• 封闭正比计数器，耐用免维护
　• 硅漂移探测器具有优越的角度分辨率和能量分辨率，测量速度提高3倍以上
　• 丰富的衍射仪附件，满足不同分析目的需要
　• 衍射仪各种功能附件自动识别
　• 模块化设计或称即插即用组件，操作人员不需要校正光学系统，就能正确使用衍射仪相应附件

 【数据处理软件包括以下功能】
　• 基本数据处理功能（寻峰、平滑、背景扣除、峰形拟合、峰形放大、谱图对比、Kα1、α2剥离、衍射线条指标化等）；
　• 无标准样品快速定量分析
　• 晶粒尺寸测量
　• 晶体结构分析（晶胞参数测量和精修）

 • 多重绘图的二维和三维显示
　• 衍射峰图群聚分析
　• 衍射数据半峰宽校正曲线
　• 衍射数据角度偏差校正曲线
　• 基于Rietveld常规定量分析
　• 使用ICDD数据库或是用户数据库进行物相定性分析
　• 使用ICDD数据库或是ICSD数据库进行定量分析

 • 宏观应力测量和微观应力计算