硅材料综合测试仪
型号:
JX2008
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JX2008电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置,它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率,适用于半导体及太阳能行业的筛选。
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技术参数产品视频实验案例警示/应用提示配件详情
参数

1.具有电阻率及型号测试功能,适合分选型号,并能够测试并显示出电阻率的值。

2.电阻率分档直观,P/N报警门限分设。

3.预设样片厚度,自动修正,直读电阻率

4.P/N分选精度超强

5.交流电AC220V供电

6.主机尺寸:155×120×50mm

6.电阻率:0.001-100欧姆厘米

7.P/N型号:0.005欧姆厘米<电阻率<100欧姆厘米


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